BeNano 180 ZetaBeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

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商品名称:BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

  • 品牌:
  • 型号:BeNano 180 Zeta
  • 包装:纸箱
  • 产地:丹东
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粒径检测

  原理  动态光散射技术
  粒径范围  0.3 nm – 10 μm 
  样品量  40 μL – 1 mL 
  检测角度  173 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

  原理  相位分析光散射技术
  检测角度  1
  Zeta范围  无实际限制
  电泳迁移率范围  >±20 μ.cm/V.s
  电导率范围  0 - 260 mS/cm
  Zeta测试粒径范围  2 nm – 110 μm  

分子量测试

  分子量范围  342 Da – 2 x 107 Da    

微流变测试

  频率范围  0.2 – 1.3 x 107 rad/s
  测试能力  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 

粘度和折光率测试

  粘度范围  0.01 cp – 100 cp
  折光率范围  1.3-1.6

趋势测试

  时间和温度

系统参数

  温控范围  -15°C - 110°C 
  冷凝控制  干燥空气或者氮气
  标准激光光源  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm
  相关器  最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围
  检测器  APD (高性能雪崩光电二极管)
  光强控制  0.0001%  - 100%,手动或者自动  

软件

 中文和英文 符合21CFR Part 11