商品名称:BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪
粒径检测
原理 | 动态光散射技术 |
粒径范围 | 0.3 nm – 15 μm |
样品量 | 3 μL – 1 mL |
检测角度 | 173 °+90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zate电位测试
原理 | 相位分析光散射技术 |
检测角度 | 12° |
Zeta范围 | 无实际限制 |
电泳迁移率范围 | > ±20 μ.cm/V.s |
电导率范围 | 0 - 260 mS/cm |
Zeta测试粒径范围 | 2 nm – 110 μm |
分子量测试
分子量范围 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流变测试
频率范围 | 0.2 – 1.3 x 107 rad/s |
测试能力 | 均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 |
粘度和折光率测试
粘度范围 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范围 | 1.3-1.6 |
趋势测试
时间与温度 |
系统参数
温控范围 | -15°C - 110°C +/- 0.1°C |
冷凝控制 | 干燥空气或者氮气 |
相关器 | 50 mW 高性能固体激光器, 671 nm |
电泳迁移率范围 | 最快25 ns采样,最多 4000通道,1011动态线性范围 |
检测器 | APD (高性能雪崩光电二极管) |
光强控制 | 0.0001% - 100%,手动或者自动 |
软件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
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